Author: Gary Cloud

中文標題

  • 第 1 部分:光的性質與描述
  • 第 2 部分:光波的干涉
  • 第 3 部分:路徑長度與通用干涉儀
  • 第 4 部分:一些基本的干涉測量方法
  • 第 5 部分:經典干涉:牛頓環
  • 第 6 部分:另一種經典干涉:楊氏實驗
  • 第 7 部分:彩色干涉條紋
  • 第 8 部分:邁克耳孫干涉儀
  • 第 9 部分:衍射問題
  • 第 10 部分:複數振幅
  • 第 11 部分:衍射理論,第一部分
  • 第 12 部分:衍射理論,第二部分
  • 第 13 部分:衍射理論,第三部分
  • 第 14 部分:清晰孔徑的衍射
  • 第 15 部分:傅里葉光學處理
  • 第 16 部分:光學多普勒效應
  • 第 17 部分:激光多普勒干涉
  • 第 18 部分:幾何莫爾現象與模擬
  • 第 19 部分:幾何莫爾的基本應變測量
  • 第 20 部分:幾何莫爾的參數分析
  • 第 21 部分:影子莫爾
  • 第 22 部分:投影莫爾
  • 第 23 部分:反射莫爾
  • 第 24 部分:激光演示
  • 第 25 部分:客觀散斑
  • 第 26 部分:主觀散斑
  • 第 27 部分:散斑尺寸估算
  • 第 28 部分:散斑亮度分佈
  • 第 29 部分:光彈性學 I—雙折射和相對延遲
  • 第 30 部分:光彈性學 II—雙折射
  • 第 31 部分:光彈性學 III—理論
  • 第 32 部分:光彈性學 IV—可觀測量與解釋
  • 第 33 部分:光彈性學 V—條紋模式
  • 第 34 部分:光彈性學 VI—圓形
  • 第 35 部分:光彈性學 VII—基本偏光儀
  • 第 36 部分:光彈性學 VIII—記錄
  • 第 37 部分:光彈性學 IX—條紋
  • 第 38 部分:光彈性學 X—轉換
  • 第 39 部分:光彈性學 XI—偏光儀
  • 第 40 部分:光彈性學 XII—記錄
  • 第 41 部分:光彈性學 XIII—應力
  • 第 42 部分:光彈性學 XIV—反射
  • 第 43 部分:光彈性學
  • 第 44 部分:NEXUS
  • 第 45 部分:測量相位差—第一部分:問題
  • 第 46 部分:測量相位差—第二部分:補償
  • 第 47 部分:測量相位差—第三部分:相位移位設置
  • 第 48 部分:測量相位差—第四部分:相位步進算法
  • 第 49 部分:測量相位差—第五部分:相位計算
  • 第 50 部分:測量相位差—第六部分:相位展開與位移確定

英文標題

  • Part 1: The Nature and Description of Light
  • Part 2: Interference of Light Waves
  • Part 3: Path Length and the Generic Interferometer
  • Part 4: Some Basic Methods of Interferometry
  • Part 5: A Classic Interferometry: Newton’s Rings
  • Part 6: Another Classic Interferometry: Young’s Experiment
  • Part 7: Colored Interferometry Fringes
  • Part 8: Michelson Interferometry
  • Part 9: The Diffraction Problem
  • Part 10: Complex Amplitude
  • Part 11: Diffraction Theory, Part I
  • Part 12: Diffraction Theory, Part II
  • Part 13: Diffraction Theory, Part III
  • Part 14: Diffraction at a Clear Aperture
  • Part 15: Fourier Optical Processing
  • Part 16: The Optical Doppler Effect
  • Part 17: Laser Doppler Interferometry
  • Part 18: Geometric Moire´ Phenomena and Simulations
  • Part 19: Basic Strain Measurement by Geometric Moire´
  • Part 20: Parametric Analysis of Geometric Moire´
  • Part 21: Shadow Moire´
  • Part 22: Projection Moire´
  • Part 23: Reflection Moire´
  • Part 24: Demonstrations of Laser
  • Part 25: Objective Speckle
  • Part 26: Subjective Speckle
  • Part 27: Speckle Size Estimates
  • Part 28: Speckle Brightness Distributions
  • Part 29: Photoelasticity I—Birefringence and Relative Retardation
  • Part 30: Photoelasticity II—Birefringence
  • Part 31: Photoelasticity III—Theory
  • Part 32: Photoelasticity IV—Observables and Interpretation
  • Part 33: Photoelasticity V—Fringe Patterns
  • Part 34: Photoelasticity VI—The Circular
  • Part 35: Photoelasticity VII—Basic Polariscope
  • Part 36: Photoelasticity VIII—Recording
  • Part 37: Photoelasticity IX—Fringes
  • Part 38: Photoelasticity X—Transfer
  • Part 39: Photoelasticity XI—Polariscope
  • Part 40: Photoelasticity XII—Recording
  • Part 41: Photoelasticity XIII—Stress
  • Part 42: Photoelasticity XIV—Reflection
  • Part 43: Photoelasticity
  • Part 44: NEXUS
  • Part 45: Measuring Phase Difference—Part I: The Problem
  • Part 46: Measuring Phase Difference—Part II: Compensation
  • Part 47: Measuring Phase Difference—Part III: A Phase-Shifting Setup
  • Part 48: Measuring Phase Difference—Part IV: Phase-Stepping Algorithms
  • Part 49: Measuring Phase Difference—Part V: Phase Calculations
  • Part 50: Measuring Phase Difference—Part VI: Phase Unwrapping and Determining Displacement